Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60146-5(1988)Заменен
Преобразователи полупроводниковые. Часть 5: Выключатели для систем бесперебойного питания (UPS - выключатели)Semiconductor convertors; part 5: switches for uninterruptible power systems (UPS switches)Открыть карточку →IEC 60146A(1974)Отменен
IEC 60146A(1974)Semiconductor convertors. First supplement: Chapter VII: Markings on convertor equipment and assembliesОткрыть карточку →IEC 60147-0(1966)Заменен
Основные максимально допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминологияEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminologyОткрыть карточку →IEC 60147-0B(1969)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Второе дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminolgyОткрыть карточку →IEC 60147-0C(1973)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Третье дополнение к публикации 1Ч7-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminologyОткрыть карточку →IEC 60147-0D(1974)Заменен
IEC 60147-0D(1974)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-0E(1979)Заменен
IEC 60147-0E(1979)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-0F(1982)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-1(1972)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений.Часть 1.Основные предельно допустимые величины параметров и характеристикиEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristicsОткрыть карточку →IEC 60147-1D(1981)Заменен
IEC 60147-1D(1981)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics. Fourth supplement. Chapter VI: Digital integrated circuitsОткрыть карточку →IEC 60147-1E(1973)Заменен
IEC 60147-1E(1973)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.Открыть карточку →IEC 60147-1F(1973)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.Открыть карточку →