Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60147-1G(1975)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.Открыть карточку →IEC 60147-1H(1981)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Восьмое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.Открыть карточку →IEC 60147-1J(1981)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.Открыть карточку →IEC 60147-1K(1981)Заменен
IEC 60147-1K(1981)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1: Essential ratings and characteristics. Tenth supplement. Chapter IX: Optoelectronic devicesОткрыть карточку →IEC 60147-2(1963)Заменен
Основные максимально допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измеренийEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methodsОткрыть карточку →IEC 60147-2B(1970)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы измерений. Второе дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-2C(1970)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-2F(1974)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений. Шестое дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-2G(1975)Заменен
IEC 60147-2G(1975)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Seventh supplement: Chapter IV: Field-effect transistorsОткрыть карточку →IEC 60147-2J(1978)Заменен
IEC 60147-2J(1978)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Ninth supplement: Chapter VII: Analogue integrated circuitsОткрыть карточку →IEC 60147-2K(1978)Заменен
IEC 60147-2K(1978)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-2L(1979)Заменен
IEC 60147-2L(1979)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Eleventh supplement: Chapter VI: Digital integrated circuitsОткрыть карточку →