Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60147-2M(1980)Заменен
IEC 60147-2M(1980)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.Открыть карточку →IEC 60147-3(1970)Заменен
Основные предельнодопустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений часть 3. Эталонные методы измеренийEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurementОткрыть карточку →IEC 60147-3A(1973)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 3. Эталонные методы измерений. Первое дополнение к публикации 147-3-70Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement.Открыть карточку →IEC 60147-4(1976)Заменен
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть Ч. Приемка и надежностьEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 4 : Acceptance and reliabilityОткрыть карточку →IEC 60147-5(1977)Заменен
IEC 60147-5(1977)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methodsОткрыть карточку →IEC 60147-5A(1981)Заменен
IEC 60147-5A(1981)Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods. First supplementОткрыть карточку →IEC 60148(1969)Заменен
Буквенные обозначения для полупроводниковых приборов и интегральных микросхемLetter symbols for semiconductor devices and integrated microcircuitsОткрыть карточку →IEC 60148A(1974)Заменен
Буквенные обозначения для полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Первое дополнение к публикации 148-69Letter symbols for semiconductor devices and integrated microcircuits.Открыть карточку →IEC 60148B(1979)Заменен
Буквенные обозначения для полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Второе дополнение к публикации 148-69Letter symbols for semiconductor devices and integrated microcircuits.Открыть карточку →IEC 60149-1(1963)Отменен
Панели для электровакуумных приборов. Часть 1: Общие требования и методы испытанийSockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of testОткрыть карточку →IEC 60149-1(1963)/Amd.1(1970)Отменен
IEC 60149-1(1963)/Amd.1(1970)Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of testОткрыть карточку →IEC 60149-1(1963)/Amd.2(1972)Отменен
IEC 60149-1(1963)/Amd.2(1972)Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of testОткрыть карточку →