Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60749-23(2004)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating lifeОткрыть карточку →IEC 60749-23(2004)/Amd.1(2011)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность. Изменение 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life. Amendment 1Открыть карточку →IEC 60749-23(2011)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating lifeОткрыть карточку →IEC 60749-23(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating lifeОткрыть карточку →IEC 60749-24(2004)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещенияSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HASTОткрыть карточку →IEC 60749-24(2004)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещенияSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HASTОткрыть карточку →IEC 60749-24(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание (HAST) без смещенияSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HASTОткрыть карточку →IEC 60749-25(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 25. Температурные циклические испытанияSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cyclingОткрыть карточку →IEC 60749-26(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)Открыть карточку →IEC 60749-26(2006)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)Открыть карточку →IEC 60749-26(2013)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)Открыть карточку →IEC 60749-26(2018)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду. Модель человеческого телаSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)Открыть карточку →