Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60749-6(2017)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуреSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperatureОткрыть карточку →IEC 60749-7(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gasesОткрыть карточку →IEC 60749-7(2002)/Cor.1(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов. Поправка 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 7. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-7(2011)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gasesОткрыть карточку →IEC 60749-7(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gasesОткрыть карточку →IEC 60749-8(2002)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. ГерметичностьSemiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8. SealingОткрыть карточку →IEC 60749-8(2002)/Cor.1(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 1Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8. Sealing. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-8(2002)/Cor.2(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность. Поправка 2Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8. Sealing. Corrigendum 2Открыть карточку →IEC 60749-9(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировкиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 9. Permanence of markingОткрыть карточку →IEC 60749-9(2002)/Cor.1(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Постоянство (прочность) маркировки. Поправка 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 9. Permanence of marking. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-9(2017)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 9. Стойкость маркировкиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of markingОткрыть карточку →IEC 60750(1983)Заменен
Обозначение элементов схем, применяемое в электротехникеItem designation in electrotechnologyОткрыть карточку →