Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 63055(2016)Заменен
Формат для совместимого проектирования LSI-пакета и платыFormat for LSI-Package-Board Interoperable designОткрыть карточку →IEC 63055(2023)Действует
Формат для совместимого проектирования LSI-пакета и платыFormat for LSI-Package-Board Interoperable designОткрыть карточку →IEC 63056(2020)Действует
Аккумуляторы и аккумуляторные батареи, содержащие щелочной или другие некислотные электролиты. Требования безопасности для литиевых аккумуляторов и батарей для использования в системах накопления электрической энергииSecondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium cells and batteries for use in electrical energy storage systemsОткрыть карточку →IEC 63056(2020)/Cor.1(2021)Действует
Аккумуляторы и аккумуляторные батареи, содержащие щелочной или другие некислотные электролиты. Требования безопасности для литиевых аккумуляторов и батарей для использования в системах накопления электрической энергии. Поправка 1Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium cells and batteries for use in electrical energy storage systems. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 63057(2020)Действует
Аккумуляторы и аккумуляторные батареи, содержащие щелочной или другие некислотные электролиты. Требования безопасности к аккумуляторным литиевым батареям для транспортных средств, используемым не для приведения их в движениеSecondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium batteries for use in road vehicles not for the propulsionОткрыть карточку →IEC 63066(2026)Действует
Соединители стыковочные низковольтные для переносных накопителей энергииLow-voltage docking connectors for removable energy storage unitsОткрыть карточку →IEC 63067(2020)Действует
Электроустановки для аэродромного светосигнального оборудования. Соединительные устройства. Общие требования и испытанияElectrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and testsОткрыть карточку →IEC 63068-1(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 1. Классификация дефектовSemiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defectsОткрыть карточку →IEC 63068-2(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 2. Метод определения дефектов с помощью оптического неразрушающего контроляSemiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspectionОткрыть карточку →IEC 63068-3(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 3. Метод определения дефектов с помощью фотолюминесценцииSemiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescenceОткрыть карточку →IEC 63068-4(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных полупроводниковых пластинах из карбида кремния для устройств питания. Часть 4. Процедура идентификации и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптического контроля и фотолюминесценцииSemiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescenceОткрыть карточку →IEC 63073-1(2020)Действует
Устройства визуализации радионуклидные специализированные. Характеристики и условия испытаний. Часть 1. Кардиальная однофотонная эмиссионная компьютерная томография (SPECT)Dedicated radionuclide imaging devices - Characteristics and test conditions - Part 1: Cardiac SPECTОткрыть карточку →