Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60749-30(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежностьSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testingОткрыть карточку →IEC 60749-31(2002)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внутреннего воспламенения)Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 31. Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)Открыть карточку →IEC 60749-31(2002)/Cor.1(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внутреннего воспламенения). Поправка 1Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 31. Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced). Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-3(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотрSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 3. External visual examinationОткрыть карточку →IEC 60749-3(2002)/Cor.1(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр. Поправка 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 3. External visual examination. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-3(2017)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотрSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examinationОткрыть карточку →IEC 60749-32(2002)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 32. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)Открыть карточку →IEC 60749-32(2002)/Amd.1(2010)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения). Изменение 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced). Amendment 1Открыть карточку →IEC 60749-32(2002)/Cor.1(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения). Поправка 1Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 32. Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced). Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-32(2010)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с герметизацией пластмассой (случай внешнего воспламенения)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)Открыть карточку →IEC 60749-33(2004)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавыSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclaveОткрыть карточку →IEC 60749-33(2004)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренное испытание на влагостойкость. Несмещенные автоклавыSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclaveОткрыть карточку →