Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 62047-42(2022)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 42. Методы измерения характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрического МЭМС-кантилевераSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantileverОткрыть карточку →IEC 62047-43(2024)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 43. Метод определения электрических характеристик гибких микроэлектромеханических устройств после циклической деформации изгибаSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devicesОткрыть карточку →IEC 62047-44(2024)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 44. Методы измерения динамических характеристик МЭМС-резонаторов, чувствительных к электрическому полюSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devicesОткрыть карточку →IEC 62047-45(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 45. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения ударной прочности наноструктурSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructuresОткрыть карточку →IEC 62047-46(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 46. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на разрыв мембраны наноразмерной толщиныSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membraneОткрыть карточку →IEC 62047-47(2024)Действует
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 47. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности микроструктур на изгибSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructuresОткрыть карточку →IEC 62047-48(2024)Действует
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 48. Метод испытания для определения концентрации раствора по оптическому поглощению с использованием жидкостного устройства MEMSSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic deviceОткрыть карточку →IEC 62047-49(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 49. Методы испытаний пьезоэлектрических MEMS консолей на воздействие температуры и влажностиSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantileversОткрыть карточку →IEC 62047-50(2025)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 50. Емкостные микрофоны MEMSSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphonesОткрыть карточку →IEC 62047-5(2011)Действует
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMSSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switchesОткрыть карточку →IEC 62047-5(2011)/Cor.1(2012)Действует
Приборы полупроводниковые. Микро-электро-механические приборы. Часть 5. Радиочастотные переключатели MEMS. Поправка 1Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches. Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 62047-52(2026)Действует
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 52. Метод двухосного испытания на растяжение для растяжимых МЭМС-устройствSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMSОткрыть карточку →