Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60749-41(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытания надежности энергонезависимых запоминающих устройствSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devicesОткрыть карточку →IEC 60749-4(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 4. Damp heat, steady state, highly accelerated stress tests (HAST)Открыть карточку →IEC 60749-4(2002)/Cor.1(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST). Поправка 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 4. Damp heat, steady state, highly accelerated stress tests (HAST). Corrigendum 1Открыть карточку →IEC 60749-4(2017)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Резко ускоренное стрессовое испытание (HAST) под воздействием влажного тепла в стационарном режимеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)Открыть карточку →IEC 60749-42(2014)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storageОткрыть карточку →IEC 60749-43(2017)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 43. Руководящие указания по планам оценки надежности интегральных схемSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plansОткрыть карточку →IEC 60749-44(2016)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 44. Метод определения одиночного импульса излучения (SEE), вызываемого пролетом пучка нейтронов, для полупроводниковых приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devicesОткрыть карточку →IEC 60749-5(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life testОткрыть карточку →IEC 60749-5(2017)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life testОткрыть карточку →IEC 60749-5(2023)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившейся температуре с изменением параметров влажностиSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life testОткрыть карточку →IEC 60749-6(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуреSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 6. Storage at high temperatureОткрыть карточку →IEC 60749-6(2002)/Cor.1(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре. Поправка 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 6. Storage at high temperature. Corrigendum 1Открыть карточку →