Федеральный информационный фонд
Каталоги стандартов
Единая навигация по российским, международным и зарубежным документам по стандартизации, классификаторам и специализированным реестрам.
Выберите каталог
Российские документы
Международные и зарубежные стандарты
Классификаторы и специализированные реестры
IEC
Международные стандарты IEC
Документы Международной электротехнической комиссии.
Документов: 23 540
IEC 60749-13(2018)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфераSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphereОткрыть карточку →IEC 60749-14(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)Открыть карточку →IEC 60749-15(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devicesОткрыть карточку →IEC 60749-15(2010)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devicesОткрыть карточку →IEC 60749-15(2020)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devicesОткрыть карточку →IEC 60749-16(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 16. Обнаружение частиц по импульсному шумуSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)Открыть карточку →IEC 60749-17(2003)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучениеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiationОткрыть карточку →IEC 60749-17(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 17. Нейтронное облучениеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiationОткрыть карточку →IEC 60749-18(2002)Заменен
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)Открыть карточку →IEC 60749-18(2019)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)Открыть карточку →IEC 60749-19(2003)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвигSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strengthОткрыть карточку →IEC 60749-19(2003)/Amd.1(2010)Действует
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг. Изменение 1Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength. Amendment 1Открыть карточку →